一文秒懂理学ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪特点

仪德科学专业代理日本理学ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪，波长色散型光谱仪可解决多种不同类型样品金属元素分析，有效快速帮助各类行加工、生产。本文章分享ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪这款设备的特点。

硬件最安全、软件最安心、维护最方便

万一的失误导致仪器损坏令人十分痛心。高性能的精密分析仪器ZSX PrimusIV设计为即便粉末样品发生粉末飞散也不会损坏仪器的上照射方式。在软件上也设计为防止操作失误的用户分级管理方式。

即便粉末样品松散下落也不会污染光学系统-上照射方式

因为采用上照射方式粉末压片样品的粉末飞散、下落也不会贵给光学系统造成影响。也不需要粘贴样品保护薄膜。

新技术的采用和精细的设计-奠定

ZSX PrimusIV的各组件都使用着最先端的要素技术，加之微细处因此，无论是对要求高精细的研究，还是对大量测量的日常质量。

液体样品分析用真空封挡系统

在样品室和分析室之间以隔壁封挡方式自动置换氦气，大幅度缩短了由真空向氦气光路的置换时间。

液体样品盒自动识别机构

分析液体样品时，样品室需要置换成He气氛围。通过液体样品盒自动识别机构可以避免液体样品盒在真空状态下进入样品室，从而放心地测量液体样品。

样品盒位置一目了然

样品台正面和右侧面均为透明窗，所以坐在计算机前操作仪器的同时可以一-目了然地确认分析样品的位置。

不需要PR气体的S-PCLE

可以选配测量轻元素的气体封闭型正比计数器(S-PCLE)。方便在难以购置PR气体的地方使用。注:使用F-PC检测器时，必须使用检测器用气体(PR气体)

独特的光学系统-减少样品表面不平整的影响
被测量样品表面凹凸不平的话，分析面与X光管的距离便有差异，这样的距离差异会带来强度变化。理学仪器的光学系统可以减少由于距离不同引起的X光强的变化。

玻璃熔片时由于坩埚之间底部形状的差异造成的影响、粉末压片时样品表面凹凸的影响等都可通过此光学系统予以校准,得到更加准确的分析。

高灵敏度弯晶

可配置PET弯晶和Ge弯晶。高灵敏度Ge弯晶与平晶相比，对P、S的灵敏度提高了30%;高灵敏度PRT弯晶与平晶相比，Al、Si的灵敏度提高了30%。也可以使用在SQX程序中，提高无标样定量分析的灵敏度。

一次X射线滤光片

设置在X射线光管和样品之间，用于减轻X射线光管发出的连续X射线或特征X射线对分析谱线的妨碍。

散射线SQX
使用散射线强度来推定样品中非测量成分的超轻元素(C、H、O、N)的影响,对污泥、水垢等含有非测量成分的样品,不做非测量成分设定便可进行更加准确的近似定量分析。